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GK-HTCD-C8鉭電容器高溫老化系統

適用于各種封裝形式的鉭電容器、電解電容器、獨石電容器、云母電容器、陶瓷電容器、紙介電容器、薄膜電容器和金屬化紙介電容器（包括SMT表面貼裝）等器件的工作壽命試驗和高溫老煉篩選。

技術特點：

①一板一區，可滿足16種不同試驗參數的器件同時老化。

②強大的圖形發生系統，表格和曲線描繪形式顯示試驗全過程的溫度參數。

③完善、標準的老化器件庫及各種老化板，解決了用戶的后顧之憂。

產品特點

高精度，高穩定性

支持雙界面
熱阻測試和結構函數測試

采樣速率1MHz/s

支持多種方
式實現Sic器件功率循環

高精度，高穩定性

支持雙界面
熱阻測試和結構函數測試

采樣速率1MHz/s

支持多種方
式實現Sic器件功率循環

服務熱線

0571-8585 6333

聯系郵箱：gk@hzgkdz.com

公司地址:浙江省杭州市余杭區閑林工業園裕豐路7號

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