高溫反偏試驗系統
系統能滿足各種封裝形式的二極管、三極管、半橋、場效應管、可控硅、IGBT等系列器件在高溫高濕環境下進行反向偏壓試驗。
集成電路高溫動態老化系統
適用于各種封裝形式的大、中、小規模數字、模擬、數模混合集成電路，包括微處理器、邏輯電路、可編程器件、存儲器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗和高溫動態老煉篩選。
間歇壽命試驗系統
適用于各種封裝形式的二極管、三極管、MOSFET、IGBT等器件的間歇壽命試驗和穩態壽命試驗。
GK-H3TRB
高溫高濕反偏試驗系統
系統能滿足各種封裝形式的二極管、三極管、半橋、場效應管、可控硅、IGBT等系列器件在高溫高濕環境下進行反向偏壓試驗。
高溫柵偏實驗系統
系統能滿足各種封裝形式的MOSFET、IGBT等器件的高溫柵偏試驗。
IGBT功率循環
適用于各種封裝的IGBT模塊進行K系數測試、穩態熱阻測試及功率循環試驗。
存儲器高溫動態老化測試系統
系統適用于各種封裝形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，FLASH，DDR，RDRAM等器件進行高溫動態老化篩選，并且在老化過程中對被試驗器件(DUT)進行功能測試(TDBI)。
三端穩壓器老化系統
系統能滿足各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可調三端穩壓器老化篩選和壽命試驗。
穩壓管 SSOP 試驗系統
系統適用于各種封裝的穩壓管（Zener）進行穩態運行功率（SSOP）試驗。
大功率晶體管老化系統
適用于F型、TO-3P/TO220、G型封裝的大功率三極管、MOS管等進行功率老化試驗。
電源模塊高溫老化試驗系統
適用于各種中小功率單路、多路正負輸出的DC/DC、AC/DC電源模塊進行高溫恒流老化試驗。
鉭電容器高溫老化系統
適用于各種封裝形式的鉭電容器、電解電容器、獨石電容器、云母電容器、陶瓷電容器、紙介電容器、薄膜電容器和金屬化紙介電容器（包括SMT表面貼裝）等器件的工作壽命試驗和高溫老煉篩選。
LED高溫老化系統
系統能滿足各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可調三端穩壓器老化篩選和壽命試驗。
熱阻測試系統
適用各種封裝外形的二極管、三極管、整流橋、SCR、MOSFET、IGBT的K系數測試和熱阻測試。
分立器件綜合老化試驗系統
適用于各種封裝（包括表面貼裝）形式的中、小功率二極管、三極管、場效應管、可控硅、集成穩壓器、光電耦合器、電阻等元器件的穩態壽命試驗（CFOL）和間歇壽命試驗（IFOL）和功率老煉篩選。
電容脈沖放電測試系統
可適用于各種外形的車用二極管進行電容放電脈沖沖擊試驗。
浙公網安備 888883020888號