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GK-PC-X16間歇壽命試驗系統
適用于各種封裝形式的二極管、三極管、MOSFET、IGBT等器件的間歇壽命試驗和穩態壽命試驗。
技術特點：
①在試驗的過程中實時測量樣品的結溫，并顯示結溫差。
②采用模塊化設計，每個模塊是一個獨立試驗單元。每個模塊有獨立的試驗腔體，真正做到板與板之間完全獨立。每個試驗單元的風道互不影響。
③在調試模式下，無論是開通狀態還是關斷狀態下，均可以每隔一秒采集一次結溫Tj，描繪出完整的溫度變化曲線。可以防止在尋找試驗條件時損壞器件。
④三極管的試驗線路采用共基極試驗線路，更能滿足宇航級產品的試驗要求。
⑤設備上可配置K系數測試裝置。
heating
高溫加熱
內部加熱 保持不壞
真金不怕火煉，超強耐高溫
超級耐高溫
保持高品質
內部加熱原理
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